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YD-350/YD-350A硬質(zhì)沖頭標(biāo)距打點(diǎn)機(jī)通過移動(dòng)定位裝置,二次擊打標(biāo)距為5mm×62點(diǎn)=305mm。電動(dòng)式連續(xù)打點(diǎn)機(jī)是作金屬拉力試樣標(biāo)距(LO)的設(shè)備。:.
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YD-350/YD-350A硬質(zhì)沖頭標(biāo)距打點(diǎn)機(jī)
它是采用垂直下壓方式,通過電機(jī)帶動(dòng),將1根帶 螺旋帶的軸旋轉(zhuǎn)360°,在不同角度抬起沖頭垂直上升下降,借助彈簧的彈力沖擊打點(diǎn),電機(jī)傳動(dòng)螺旋軸一周 在試樣上打出直線排列間距為10mm×31點(diǎn)=300mm。通過移動(dòng)定位裝置,二次擊打標(biāo)距為5mm×62點(diǎn)=305mm。電動(dòng)式連續(xù)打點(diǎn)機(jī)是作金屬拉力試樣標(biāo)距(LO)的設(shè)備。
YD-350/YD-350A硬質(zhì)沖頭標(biāo)距打點(diǎn)機(jī)技術(shù)指標(biāo):
1.電動(dòng)/手動(dòng): 手動(dòng)
2.標(biāo)距范圍(打點(diǎn))mm: 10~350
3.標(biāo)距等分格mm: 10/10
4.標(biāo)距精度%(L0): ≤±0.5
5.適用試樣直徑或厚度: 1~40mm
YD-350硬質(zhì)沖頭標(biāo)距打點(diǎn)機(jī)主要技術(shù)參數(shù):
型號(hào) | YD—300A | YD—350 | YD—400 | YD—500 |
標(biāo)距范圍LO | 5~300MM | 10~350MM | 10~400。。 | 10~500MM |
等分點(diǎn)間距 | 5或10MM | 10MM | 10MM | 10MM |
適用試樣規(guī)格 | 1~400MM | |||
標(biāo)距精度 | ≤±1%(LO) |
產(chǎn)品規(guī)格:
1、范圍
本方法規(guī)定了用于試樣拉伸試驗(yàn)標(biāo)定原始標(biāo)距的硬質(zhì)沖頭標(biāo)距打點(diǎn)機(jī)(簡(jiǎn)稱標(biāo)點(diǎn)機(jī))的自校準(zhǔn)的方法
2、引用標(biāo)準(zhǔn)
GB/T228《金屬材料 室溫拉伸試驗(yàn)方法》
3、校準(zhǔn)方法
用標(biāo)點(diǎn)機(jī)在有一定光潔度的試樣上打點(diǎn)。用已檢定合格的計(jì)量器具對(duì)所有點(diǎn)之間進(jìn)行測(cè)量,記錄測(cè)量值,與標(biāo)定的標(biāo)距進(jìn)行比較得出標(biāo)定結(jié)果。
4、校準(zhǔn)要求
4.1校準(zhǔn)要量具
用于測(cè)量標(biāo)點(diǎn)間距離的量具應(yīng)是經(jīng)過法定檢定部門精確檢定的合格量具,應(yīng)能精確到0.02mm。
4.2校準(zhǔn)周期
每半年一次.
4.3校準(zhǔn)人員
校準(zhǔn)工作由力學(xué)技術(shù)人員進(jìn)行。
5、標(biāo)定程序
5.1 用于標(biāo)距打點(diǎn)的標(biāo)點(diǎn)機(jī)應(yīng)使用靈敏,彈簧應(yīng)能自由伸縮,打的點(diǎn)子應(yīng)盡量細(xì)小。
5.2用于標(biāo)定的試樣應(yīng)達(dá)到一定光潔度。
5.3標(biāo)點(diǎn)機(jī)在試樣上打的點(diǎn)應(yīng)有一定大小規(guī)定。當(dāng)點(diǎn)子直徑大于1mm時(shí)該標(biāo)點(diǎn)機(jī)應(yīng)報(bào)廢??蓪?duì)打點(diǎn)機(jī)沖頭進(jìn)行修磨后重新使用,但應(yīng)保證其沖頭直徑中心仍然處于相鄰三點(diǎn)的中心。
5.4在進(jìn)行標(biāo)定時(shí),測(cè)量?jī)蓚€(gè)點(diǎn)之間的距離應(yīng)從一個(gè)點(diǎn)的中心到另一個(gè)點(diǎn)的中心。見下圖(放大)。
5.5隨意測(cè)定20個(gè)相鄰點(diǎn)間之間的距離 ,記錄數(shù)據(jù)。
5.6隨意測(cè)定不相鄰點(diǎn)間的距離。需要的規(guī)定如下:
測(cè)定*點(diǎn)與間隔5個(gè)點(diǎn)之間的距離。然后測(cè)定第二個(gè)點(diǎn)與間隔5個(gè)點(diǎn)之間的距離。(第二個(gè)點(diǎn)與*個(gè)點(diǎn)間隔2個(gè)點(diǎn))。依次類推直到整個(gè)點(diǎn)數(shù)完畢。記錄每次的距離。
測(cè)定*個(gè)點(diǎn)與間隔10個(gè)點(diǎn)之間的距離。然后測(cè)定第二個(gè)點(diǎn)與間隔10個(gè)點(diǎn)之間的距離。(第二個(gè)點(diǎn)與*個(gè)點(diǎn)間隔5個(gè)點(diǎn))。依次類推直到整個(gè)點(diǎn)數(shù)完畢。記錄每次的距離。
測(cè)定*個(gè)點(diǎn)與間隔15個(gè)點(diǎn)之間的距離。然后測(cè)定第二個(gè)點(diǎn)與間隔15個(gè)點(diǎn)之間的距離。(第二個(gè)點(diǎn)與*個(gè)點(diǎn)間隔7個(gè)點(diǎn))。依次類推直到整個(gè)點(diǎn)數(shù)完畢。記錄每次的距離。
測(cè)定*個(gè)點(diǎn)與間隔20個(gè)點(diǎn)之間的距離。然后測(cè)定第二個(gè)點(diǎn)與間隔20個(gè)點(diǎn)之間的距離。(第二個(gè)點(diǎn)與*個(gè)點(diǎn)間隔10個(gè)點(diǎn))。依次類推直到整個(gè)點(diǎn)數(shù)完畢。記錄每次的距離。
5.7任意一次測(cè)定的數(shù)據(jù)與規(guī)定數(shù)據(jù)的相對(duì)誤差不能超過±1.0%。
處置
6.1對(duì)于校檢結(jié)果合格的標(biāo)點(diǎn)機(jī)方可使用。
6.2對(duì)于校檢結(jié)果達(dá)不到要求的應(yīng)報(bào)廢或重新標(biāo)牌以實(shí)際誤差來計(jì)算實(shí)際標(biāo)距。
附表:表1.標(biāo)點(diǎn)機(jī)自校檢結(jié)果記錄
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